FASE: MEDIÇÃO • FERRAMENTA 07

ANÁLISE DE CAPABILIDADE

Cp / Cpk — o processo entrega o que a especificação exige?

Como preencher

  1. Pré-requisitos: processo estável (carta de controle sem sinais) e dados aproximadamente normais — sem isso, Cp/Cpk mentem.
  2. Registre LIE/LSE (especificação do cliente/CTQ), média (x̄) e desvio-padrão (s) de ≥ 30 pontos.
  3. Calcule: Cp = (LSE − LIE) / 6s  ·  Cpk = mín [ (LSE − x̄) / 3s ; (x̄ − LIE) / 3s ].
  4. Registre aqui o baseline e recalcule após a Melhoria, no mesmo formato — é a prova estatística do ganho.
Projeto / código
Característica (Y) / unidade
Período / tamanho da amostra (n)
Momento LIE LSE Média (x̄) Desvio (s) Cp Cpk % fora da espec.
Baseline (Measure)
Após melhoria

Grade para o histograma

desenhe a distribuição dos dados e posicione LIE e LSE
LIE = ____ LSE = ____ FREQUÊNCIA VALOR MEDIDO →

Interpretação do Cpk

  • < 1,00 — incapaz: produz fora da especificação todo dia
  • 1,00 – 1,33 — marginal: qualquer deriva gera não conformidade
  • ≥ 1,33 — capaz (padrão mínimo usual de mercado)
  • ≥ 1,67 — capaz com folga (características críticas)

Verificações antes de reportar

Ex.: carta sem sinais? teste de normalidade ok? MSA aprovado? n ≥ 30?

Dica do especialista

Cp alto com Cpk baixo = processo preciso, mas descentrado — centralizar a média costuma ser muito mais barato do que reduzir variação. E capabilidade calculada sobre processo instável é foto de alvo em movimento: estabilize primeiro, meça depois.

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